本文主要介绍了关于光电子器件的相关检测标准，检测标准仅供参考，如果您想了解自己的样品需要哪些检测标准，可以咨询我们在线工程师为您服务。

SJ 2247-1982(2017)：半导体光电子器件外形尺寸

SJ 2247-1982(2009)：半导体光电子器件外形尺寸

GB/T 12565-1990：半导体器件 光电子器件分规范(可供认证用)

GB/T 33768-2017：通信用光电子器件可靠性试验方法

YD/T 2342-2011(2017)：通信用光电子器件可靠性试验方法

YD/T 2342-2011：通信用光电子器件可靠性试验方法

GB/T 21194-2007：通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求

SJ 50033/197-2018：半导体光电子器件 GH3202Z型光电耦合器详细规范

SJ 50033/199-2018：半导体光电子器件 GH4420Z型光电耦合器详细规范

SJ 50033/198-2018：半导体光电子器件 GH3201Z-2型光电耦合器详细规范

GB/T 15651-1995：半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件

SJ 50033/111-1996：半导体光电子器件 ＧＴ１６型硅ＮＰＮ光电晶体管详细规范

SJ 50033/112-1996：半导体光电子器件 ＧＤ３２５１Ｙ型光电二极管详细规范

SJ 50033/147-2000：半导体光电子器件 GF1121型LED指示灯详细规范

YD/T 2001.2-2011(2017)：用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分:测试方法

SJ 20644/2-2001：半导体光电子器件 GD101型PIN光电二极管详细规范

SJ 50033/113-1996：半导体光电子器件 ＧＤ３２５２Ｙ型光电二极管详细规范

SJ/T 11405-2009：光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法

SJ/T 11393-2009：半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范

YD/T 2001.2-2011：用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分:测试方法

SJ/T 11393-2009(2017)：半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范

GB/T 36358-2018：半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范

SJ/T 11400-2009：半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范

GB/T 15651.4-2017：半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器

SJ 20644/1-2001：半导体光电子器件 GD3550Y型PIN光电二极管详细规范

SJ 58119/3-2018：半导体光电子器件 GT322D-60-SM-FC/APC型光电探测器详细规范

SJ/T 11400-2009(2017)：半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范

GB/T 36360-2018：半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范

GB/T 15651.3-2003：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

SJ 50033/114-1996：半导体光电子器件 ＧＤ３２８３Ｙ型位敏探测器详细规范

北检院部分仪器展示