本文主要介绍了关于模拟集成电路的相关检测标准，检测标准仅供参考，如果您想了解自己的样品需要哪些检测标准，可以咨询我们在线工程师为您服务。

GB/T 17940-2000：半导体器件 集成电路 第３部分：模拟集成电路

JJG (电子) 04034-1989：GR-1731M型模拟集成电路测试系统(试行)

GB/T 14028-2018：半导体集成电路 模拟开关测试方法

SJ/Z 11354-2006：集成电路模拟/混合信号IP核规范

SJ/Z 11354-2006(2017)：集成电路模拟/混合信号IP核规范

GB/T 42839-2023：半导体集成电路 模拟数字（AD）转换器

GB/T 12842-1991：膜集成电路和混和膜集成电路术语

GB/T 8976-1996：膜集成电路和混合膜集成电路总规范

GB/T 42973-2023：半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器

GB/T 15138-1994：膜集成电路和混合集成电路外形尺寸

GB/T 9178-1988：集成电路术语

SJ 20954-2006：集成电路锁定试验

QJ 1995A-1998：集成电路验收规范

QJ 2775-1995：集成电路包装规范

GB/T 17574.20-2006：半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范

GB/T 11498-2018：半导体器件 集成电路 第21部分:膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)

GB/T 18500.2-2001：半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范

GB/T 16465-1996：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)

GB/T 40577-2021：集成电路制造设备术语

GB/T 17574-1998：半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路

SJ/T 11740-2019：集成电路自动塑封系统

GB/T 18500.1-2001：半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范

JC/T 2372-2016：集成电路用石英舟

GB/T 14031-1992：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

GB/T 16466-1996：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序)

GB/T 20515-2006：半导体器件 集成电路 第5部分:半定制集成电路

JC/T 2372-2016(2017)：集成电路用石英舟

GB/T 42838-2023：半导体集成电路 霍尔电路测试方法

GB/T 14029-1992：半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

GB/T 12750-2006：半导体器件 集成电路 第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)

北检院部分仪器展示