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半导体器件检测标准

首页 > 业务领域 > 检测标准 浏览: 发布日期:2024-02-26 09:43:05

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本文主要介绍了关于半导体器件的相关检测标准,检测标准仅供参考,如果您想了解自己的样品需要哪些检测标准,可以咨询我们在线工程师为您服务。

QJ 2225-1992:半导体器件使用规则

GB/T 12560-1999:半导体器件 分立器件分规范

SJ/T 10414-2015(2017):半导体器件用焊料

SJ/T 10414-2015:半导体器件用焊料

GB/T 2900.32-1994:电工术语 电力半导体器件

JB/T 5844-1991:电力半导体器件参数符号

YS/T 678-2008(2017):半导体器件键合用铜丝

JB/T 10097-2000:电力半导体器件用管壳

YS/T 641-2007(2014):半导体器件键合用铝丝

YS/T 641-2007(2017):半导体器件键合用铝丝

YS/T 678-2008(2015):半导体器件键合用铜丝

QJ 1511A-1998:半导体分立器件验收规范

YS/T 678-2008:半导体器件键合用铜丝

YS/T 641-2007:半导体器件键合用铝丝

SJ/Z 9021.1-1987(2017):半导体器件的机械标准化 第1部分:半导体器件图形绘制

SJ/Z 9021.1-1987(2009):半导体器件的机械标准化 第1部分:半导体器件图形绘制

GB/T 7581-1987:半导体分立器件外形尺寸

GB/T 11499-2001:半导体分立器件文字符号

SJ 2684-1986(2017):半导体发光器件外形尺寸

JB/T 2423-1999:电力半导体器件 型号编制方法

SJ 2684-1986(2009):半导体发光器件外形尺寸

QJ 787-1983:半导体分立器件筛选技术条件

GB/T 32817-2016:半导体器件 微机电器件 MEMS总规范

JB/T 7786-1995:电力半导体器件检验抽样方法

SJ/T 10149-1991(2009):电子元器件图形库 半导体分立器件图形

GB/T 249-2017:半导体分立器件型号命名方法

GB/T 15651.4-2017:半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器

GB/T 20516-2006:半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件

JB/T 5842-2005(2017):电力半导体器件用管芯定位环

JB/T 9687.1-1999:电力半导体器件用钼圆片

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