本文主要介绍了关于无键合引线轴向引线玻璃外壳和玻璃钝化封装二极管(1001)的相关检测标准，检测标准仅供参考，如果您想了解自己的样品需要哪些检测标准，可以咨询我们在线工程师为您服务。

SJ 50033/149-2000：半导体分立器件 2CW100～121型玻璃钝化封装硅电压调整二极管详细规范

SJ 50033/144-1999：半导体分立器件 2CW50～78型玻璃钝化封装硅电压调整二极管详细规范

GB/T 35846-2018：发光二极管照明用玻璃管

JY 182-1984：真空二极管

GB/T 6588-2000：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范

YY 1001-2024：全玻璃注射器

SJ 21323-2018：全自动引线键合机通用规范

WJ 2100-2004：硅光电二极管、硅雪崩光电二极管测试方法

SJ/T 11624-2016：发光二极管(LED)显示屏用发光二极管规范

SJ/T 11624-2016(2017)：发光二极管(LED)显示屏用发光二极管规范

GB/T 6589-2002：半导体器件 分立器件 第3-2部分:信号(包括开关)和调整二极管电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范

HB 5658-1981：二极玻璃液体电门

QJ 1907-1990：PIN二极管筛选规范

CNS 15497-2011：发光二极管投光灯具

JB/T 7624-2013(2017)：整流二极管测试方法

JB/T 7624-2013：整流二极管测试方法

GB/T 16526-1996：封装引线间电容和引线负载电容测试方法

YD/T 834-1996(2017)：分布反馈激光二极管检测方法

YD/T 835-1996：雪崩光电二极管检测方法

YD/T 835-1996(2017)：雪崩光电二极管检测方法

YD/T 834-1996(2015)：分布反馈激光二极管检测方法

GB/T 16894-1997：大于100A,环境和管壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范

YD/T 834-1996：分布反馈激光二极管检测方法

SJ/T 2749-2016(2017)：半导体激光二极管测试方法

QJ 2362-1992：阶跃恢复二极管筛选规范

YD/T 835-1996(2015)：雪崩光电二极管检测方法

SJ/T 2749-2016：半导体激光二极管测试方法

SJ/T 11767-2020：二极管低频噪声参数测试方法

GB/T 15649-1995：半导体激光二极管空白详细规范

CJ/T 361-2011：水景用发光二极管(LED)灯

北检院部分仪器展示