本文主要介绍了关于带触点的集成电路卡及其接口设备的相关检测方法，检测方法仅供参考，如果您想针对自己的样品定制试验方案，可以咨询我们在线工程师为您服务。

1. X射线检测：利用X射线穿透材料的特性，检测集成电路卡的内部构造，包括触点等。

2. 热敏摄像头检测：通过热敏摄像头对集成电路卡进行扫描，检测集成电路卡的温度分布，发现异常热点。

3. 超声波检测：利用超声波对集成电路卡进行扫描，检测内部构造和可能存在的缺陷。

4. 红外线扫描：使用红外线扫描仪对集成电路卡进行扫描，检测温度异常和其他问题。

5. 引线磨损检测：检测集成电路卡的引线是否存在磨损，可能影响接触的质量和稳定性。

6. 震动测试：对集成电路卡进行震动测试，检测是否存在故障引起的松动等问题。

7. 真空测试：将集成电路卡置于真空环境中，检测其在高压下的工作情况。

8. 声波检测：利用声波对集成电路卡进行检测，检测可能存在的松动连接或者损坏。

9. 磁场扫描：通过磁场扫描仪对集成电路卡进行扫描，检测可能存在的磁场干扰或问题。

10. 振动测试：对集成电路卡进行不同频率和振幅的振动测试，检测其在不同环境下的稳定性。

北检院部分仪器展示