信息概要

小角X射线散射(SAXS)纳米结构检测是一种用于分析材料纳米级结构的先进技术，通过测量X射线在小角范围内的散射信号，能够获取材料的粒径分布、形状、孔隙率、比表面积等关键信息。该技术广泛应用于材料科学、生物医药、能源存储等领域，对于研发新型纳米材料、优化生产工艺以及质量控制具有重要意义。SAXS检测能够提供非破坏性、高精度的结构分析，帮助客户深入了解材料的微观特性，从而提升产品性能和市场竞争力。

检测项目

粒径分布，形状分析，孔隙率，比表面积，聚集状态，结晶度，界面厚度，密度波动，长周期结构，取向度，分形维数，电子密度差，结构因子， Guinier半径， Porod斜率，散射强度分布，结构对称性，纳米颗粒浓度，层状结构周期，嵌段共聚物相分离

检测范围

纳米颗粒，纳米纤维，纳米薄膜，多孔材料，胶体溶液，聚合物，生物大分子，金属有机框架，复合材料，脂质体，病毒颗粒，蛋白质聚集物，碳纳米管，石墨烯，量子点，介孔材料，微乳液，纳米晶，纳米线，纳米棒

检测方法

Guinier分析：通过Guinier区域拟合获取纳米颗粒的半径信息。

Porod分析：利用高角度散射数据计算比表面积和界面特性。

间接傅里叶变换：将散射数据转换为实空间的Pair距离分布函数。

模型拟合：基于已知结构模型对散射曲线进行拟合。

Debye-Bueche分析：用于分析非均匀材料的密度波动。

Kratky图：判断生物大分子的折叠状态。

Zimm图：分析高分子溶液的分子量和第二维里系数。

对比匹配：通过调节溶剂密度增强特定组分的散射信号。

时间分辨SAXS：监测纳米结构随时间变化的动态过程。

温度依赖SAXS：研究材料结构随温度变化的相行为。

原位SAXS：在特定环境条件下实时观测结构变化。

掠入射SAXS(GISAXS)：用于分析薄膜表面的纳米结构。

超小角X射线散射(USAXS)：扩展测量到更大尺度结构。

反常SAXS：利用元素特异性共振增强散射对比。

偏振SAXS：研究各向异性材料的结构取向。

检测仪器

小角X射线散射仪，X射线发生器，二维探测器，真空样品室，温控样品台，湿度控制装置，自动样品更换器，准直系统，单色器，光束整形系统，散射光路系统，数据采集系统，原位反应池，掠入射附件，超小角散射附件

荣誉资质

北检院部分仪器展示