信息概要

偏硅酸与纳米材料分散性联合测试是一项针对偏硅酸及纳米材料在溶液中分散性能的综合检测服务。该测试通过评估偏硅酸含量及纳米材料的分散稳定性，为产品质量控制、工艺优化及研发提供科学依据。检测的重要性在于确保纳米材料的均匀分散性，避免团聚现象，从而提升产品性能与应用效果。此外，偏硅酸含量的准确测定对水质评估、工业原料质量控制等具有重要意义。

检测项目

偏硅酸含量，纳米颗粒粒径分布，分散稳定性，Zeta电位，pH值，电导率，浊度，粘度，固含量，比表面积，孔隙率，团聚指数，沉降速率，光学透明度，表面张力，化学需氧量，重金属含量，有机污染物，微生物含量，热稳定性

检测范围

偏硅酸溶液，纳米二氧化硅，纳米氧化铝，纳米氧化锌，纳米碳管，纳米银，纳米金，纳米氧化铁，纳米粘土，纳米碳酸钙，纳米钛白粉，纳米聚合物，纳米陶瓷粉体，纳米复合材料，纳米涂层，纳米纤维，纳米乳液，纳米药物载体，纳米催化剂，纳米磁性材料

检测方法

分光光度法：用于测定偏硅酸含量，基于特定波长下的吸光度分析。

动态光散射法：测量纳米颗粒的粒径分布及分散稳定性。

Zeta电位分析：通过电泳光散射评估纳米颗粒表面电荷。

pH计法：测定溶液的酸碱度，影响分散性能。

电导率仪法：评估溶液中离子浓度对分散性的影响。

浊度计法：通过光散射测量溶液的浑浊程度。

粘度计法：分析流体粘度对纳米材料分散的影响。

离心沉降法：测定纳米颗粒的沉降速率及团聚倾向。

BET比表面积分析：通过气体吸附法计算纳米材料比表面积。

扫描电子显微镜：观察纳米材料的形貌及分散状态。

透射电子显微镜：高分辨率分析纳米颗粒的微观结构。

X射线衍射：鉴定纳米材料的晶体结构及纯度。

热重分析：评估纳米材料的热稳定性及成分变化。

原子吸收光谱：检测重金属杂质含量。

高效液相色谱：分析有机污染物及添加剂成分。

检测仪器

分光光度计，动态光散射仪，Zeta电位分析仪，pH计，电导率仪，浊度计，粘度计，离心机，BET比表面积分析仪，扫描电子显微镜，透射电子显微镜，X射线衍射仪，热重分析仪，原子吸收光谱仪，高效液相色谱仪

荣誉资质

北检院部分仪器展示