信息概要

纳米粒子释放量TEM分析是一种通过透射电子显微镜（TEM）技术对材料中纳米粒子的释放量进行定量和定性分析的服务。该检测对于评估纳米材料的安全性、环境风险以及工业应用中的合规性至关重要。通过精确测量纳米粒子的尺寸、形貌、分布及释放量，可为产品研发、质量控制及法规符合性提供科学依据。本服务适用于各类纳米材料及相关产品，确保其在使用过程中不会对人体健康或环境造成潜在危害。

检测项目

纳米粒子尺寸分布,纳米粒子形貌分析,纳米粒子聚集状态,纳米粒子释放浓度,纳米粒子表面电荷,纳米粒子化学成分,纳米粒子晶体结构,纳米粒子分散性,纳米粒子稳定性,纳米粒子表面修饰,纳米粒子释放动力学,纳米粒子生物相容性,纳米粒子环境行为,纳米粒子毒性评估,纳米粒子迁移率,纳米粒子吸附能力,纳米粒子降解性,纳米粒子表面能,纳米粒子光学特性,纳米粒子磁学特性

检测范围

纳米金属材料,纳米氧化物,纳米碳材料,纳米聚合物,纳米陶瓷,纳米复合材料,纳米涂层,纳米纤维,纳米薄膜,纳米药物载体,纳米催化剂,纳米传感器,纳米电子材料,纳米磁性材料,纳米生物材料,纳米环境材料,纳米能源材料,纳米光学材料,纳米医用材料,纳米食品添加剂

检测方法

透射电子显微镜（TEM）法：通过高分辨率成像分析纳米粒子的尺寸和形貌。

能量色散X射线光谱（EDX）法：用于纳米粒子的化学成分分析。

动态光散射（DLS）法：测量纳米粒子在溶液中的尺寸分布。

Zeta电位分析：评估纳米粒子表面电荷及稳定性。

X射线衍射（XRD）法：确定纳米粒子的晶体结构。

紫外-可见光谱（UV-Vis）法：分析纳米粒子的光学特性。

傅里叶变换红外光谱（FTIR）法：检测纳米粒子表面官能团。

热重分析（TGA）法：评估纳米粒子的热稳定性。

扫描电子显微镜（SEM）法：辅助观察纳米粒子的表面形貌。

原子力显微镜（AFM）法：提供纳米粒子的三维形貌信息。

电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）法：定量分析纳米粒子的元素组成。

拉曼光谱法：研究纳米粒子的分子振动和结构信息。

比表面积分析（BET）法：测定纳米粒子的比表面积和孔隙率。

电化学分析法：评估纳米粒子的电化学行为。

离心沉降法：分离并分析纳米粒子的沉降特性。

检测仪器

透射电子显微镜（TEM）,能量色散X射线光谱仪（EDX）,动态光散射仪（DLS）,Zeta电位分析仪,X射线衍射仪（XRD）,紫外-可见分光光度计（UV-Vis）,傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）,热重分析仪（TGA）,扫描电子显微镜（SEM）,原子力显微镜（AFM）,电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）,拉曼光谱仪,比表面积分析仪（BET）,电化学工作站,离心机

荣誉资质

北检院部分仪器展示