信息概要

基因测序芯片封闭剂残留TOC测试是针对基因测序芯片生产过程中使用的封闭剂进行总有机碳（TOC）残留量检测的专业服务。封闭剂在芯片制备中用于封闭非特异性结合位点，但其残留可能影响测序结果的准确性和芯片性能。通过TOC测试，可以确保封闭剂残留量符合行业标准，保障基因测序芯片的质量和可靠性。该检测对芯片生产的质量控制、产品合规性以及下游应用的安全性具有重要意义。

检测项目

总有机碳（TOC）含量，封闭剂残留量，有机污染物浓度，无机碳含量，非挥发性有机物，挥发性有机物，颗粒物残留，重金属残留，pH值，电导率，溶解氧，微生物限度，内毒素，蛋白质残留，核酸残留，表面活性剂残留，有机溶剂残留，醛类化合物，酮类化合物，酯类化合物

检测范围

基因测序芯片，微流控芯片，生物传感器芯片，PCR芯片，杂交芯片，荧光标记芯片，纳米孔测序芯片，单细胞测序芯片，高通量测序芯片，DNA甲基化芯片，SNP芯片，RNA测序芯片，蛋白质芯片，细胞芯片，组织芯片，免疫芯片，CRISPR芯片，诊断芯片，科研用芯片，临床检测芯片

检测方法

高温催化氧化法：通过高温燃烧样品中的有机碳，转化为二氧化碳后检测。

紫外-过硫酸盐氧化法：利用紫外光和过硫酸盐氧化有机碳，测定生成的二氧化碳。

非分散红外检测法：通过红外吸收检测二氧化碳浓度，计算TOC含量。

电导率检测法：测量样品氧化前后的电导率变化，推算TOC值。

气相色谱-质谱联用法（GC-MS）：用于检测挥发性有机化合物残留。

高效液相色谱法（HPLC）：分析非挥发性有机物残留。

电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：检测重金属残留。

酶联免疫吸附试验（ELISA）：测定蛋白质残留量。

荧光定量PCR法：检测核酸残留。

动态光散射法（DLS）：分析颗粒物残留。

比色法：测定特定化合物（如醛类、酮类）的残留。

微生物限度测试：通过培养法检测微生物污染。

鲎试剂法：检测内毒素含量。

pH计法：测量样品的pH值。

电导率仪法：测定样品的电导率。

检测仪器

总有机碳分析仪，气相色谱-质谱联用仪，高效液相色谱仪，电感耦合等离子体质谱仪，紫外分光光度计，红外光谱仪，荧光分光光度计，动态光散射仪，酶标仪，PCR仪，pH计，电导率仪，溶解氧测定仪，颗粒计数器，微生物培养箱

荣誉资质

北检院部分仪器展示