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质量交换容X射线荧光光谱(XRF)检测

首页 > 业务领域 > 检测项目 浏览: 发布日期:2025-06-19 13:02:23

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信息概要

质量交换容X射线荧光光谱(XRF)检测是一种非破坏性分析技术,用于测定材料中元素的组成和含量。该技术通过测量样品在X射线激发下发射的特征荧光光谱,实现对元素的定性和定量分析。XRF检测广泛应用于环境监测、食品安全、金属加工、电子产品、建筑材料等领域,确保产品质量符合行业标准和法规要求。检测的重要性在于帮助企业控制原材料质量、优化生产工艺、降低环境污染风险,并为产品合规性提供科学依据。

检测项目

元素含量(如铅、汞、镉、铬、砷等重金属), 卤素含量(如氯、溴、氟), 硫含量, 磷含量, 硅含量, 钙含量, 铁含量, 铜含量, 锌含量, 镍含量, 锰含量, 钛含量, 铝含量, 镁含量, 钾含量, 钠含量, 锡含量, 锑含量, 钡含量, 硒含量

检测范围

电子产品(如电路板、芯片), 塑料制品, 橡胶材料, 涂料和油墨, 金属合金, 玻璃制品, 陶瓷材料, 建筑材料(如水泥、瓷砖), 土壤和沉积物, 废水及污泥, 矿石和矿物, 化妆品, 食品包装材料, 纺织品, 汽车零部件, 电池材料, 医疗器械, 玩具, 纸张和纸板, 润滑油

检测方法

波长色散X射线荧光光谱法(WDXRF):通过分光晶体分离不同波长的X射线荧光,实现高分辨率分析。

能量色散X射线荧光光谱法(EDXRF):利用半导体探测器直接测量荧光X射线的能量,适用于快速筛查。

熔融法制样:将样品与熔剂混合熔融,制成均匀玻璃片,减少基体效应。

压片法制样:将粉末样品压制成片,适用于松散或颗粒状样品。

薄膜分析法:用于超薄样品或表面涂层的元素分析。

微区XRF分析:通过聚焦X射线束对小区域进行高空间分辨率检测。

全反射X射线荧光光谱法(TXRF):适用于痕量元素分析,检测限低至ppb级。

同步辐射XRF:利用同步辐射光源的高亮度和准直性,提高检测灵敏度和分辨率。

便携式XRF:现场快速检测,适用于环境监测和工业质量控制。

在线XRF:实时监测生产过程中的元素含量变化。

XRF映射:对样品表面进行二维扫描,获取元素分布图像。

XRF与SEM-EDS联用:结合扫描电镜和能谱分析,实现形貌与成分同步检测。

XRF与ICP-MS联用:互补分析,提高检测范围和准确性。

XRF与LIBS联用:结合激光诱导击穿光谱,扩展元素检测范围。

XRF与色谱联用:用于元素形态分析。

检测仪器

波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF), 能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF), 便携式X射线荧光分析仪, 在线X射线荧光分析系统, 全反射X射线荧光光谱仪(TXRF), 同步辐射X射线荧光光谱仪, 微区X射线荧光光谱仪, X射线荧光映射系统, X射线荧光与SEM-EDS联用系统, X射线荧光与ICP-MS联用系统, X射线荧光与LIBS联用系统, X射线荧光与色谱联用系统, 熔融机, 压片机, 薄膜制备仪

荣誉资质

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