信息概要

俄歇电子能谱（AES）是一种表面分析技术，广泛应用于纳米薄膜界面元素的检测。该技术通过分析俄歇电子的能量分布，提供材料表面及界面元素的定性和定量信息。检测纳米薄膜界面元素对于理解材料性能、优化制备工艺以及确保产品质量至关重要。第三方检测机构通过专业的AES服务，为客户提供高精度、高可靠性的检测数据，助力科研与工业应用。

检测项目

元素组成分析，元素分布 mapping，深度剖析，化学态分析，界面扩散，薄膜厚度测量，表面污染检测，氧化层分析，掺杂浓度，界面反应，薄膜均匀性，元素偏析，化学键合状态，界面粗糙度，薄膜附着力，缺陷分析，杂质含量，元素迁移，界面能级，薄膜稳定性

检测范围

金属薄膜，氧化物薄膜，氮化物薄膜，碳化物薄膜，半导体薄膜，聚合物薄膜，多层薄膜，超薄薄膜，功能薄膜，保护涂层，光学薄膜，导电薄膜，磁性薄膜，生物相容薄膜，纳米复合材料，陶瓷薄膜，合金薄膜，二维材料薄膜，有机-无机杂化薄膜，光电薄膜

检测方法

俄歇电子能谱（AES）：通过激发俄歇电子并分析其能量分布，实现表面元素定性和定量分析。

X射线光电子能谱（XPS）：利用X射线激发光电子，分析表面元素及其化学态。

二次离子质谱（SIMS）：通过溅射离子分析表面及深度元素分布。

透射电子显微镜（TEM）：高分辨率观察薄膜界面微观结构。

扫描电子显微镜（SEM）：表面形貌和元素分布分析。

原子力显微镜（AFM）：表面形貌和粗糙度测量。

X射线衍射（XRD）：薄膜晶体结构分析。

椭圆偏振仪：薄膜厚度和光学常数测量。

拉曼光谱：化学键和分子结构分析。

傅里叶变换红外光谱（FTIR）：薄膜化学组成和键合状态分析。

紫外-可见光谱（UV-Vis）：薄膜光学性能检测。

电化学阻抗谱（EIS）：薄膜界面电化学性能分析。

纳米压痕：薄膜机械性能测量。

四探针法：薄膜电导率测量。

霍尔效应测试：薄膜载流子浓度和迁移率分析。

检测仪器

俄歇电子能谱仪，X射线光电子能谱仪，二次离子质谱仪，透射电子显微镜，扫描电子显微镜，原子力显微镜，X射线衍射仪，椭圆偏振仪，拉曼光谱仪，傅里叶变换红外光谱仪，紫外-可见分光光度计，电化学工作站，纳米压痕仪，四探针测试仪，霍尔效应测试系统

荣誉资质

北检院部分仪器展示