信息概要

滑石粉Zeta电位检测是评估滑石粉颗粒表面电荷特性的重要手段，通过测量颗粒在分散体系中的电泳迁移率来确定其稳定性与分散性。该检测对于滑石粉在医药、化妆品、涂料等领域的应用至关重要，直接影响产品的性能与质量。第三方检测机构提供专业的Zeta电位检测服务，确保数据准确可靠，帮助企业优化生产工艺与配方设计。

检测项目

Zeta电位值, 粒径分布, 比表面积, 电导率, pH值, 悬浮稳定性, 分散性, 流变特性, 固含量, 水分含量, 灼烧失重, 重金属含量, 微生物限度, 白度, 吸油量, 折射率, 密度, 粘度, 化学成分分析, 结晶度

检测范围

医药级滑石粉, 化妆品级滑石粉, 食品级滑石粉, 工业级滑石粉, 涂料用滑石粉, 塑料用滑石粉, 橡胶用滑石粉, 陶瓷用滑石粉, 造纸用滑石粉, 农药用滑石粉, 油墨用滑石粉, 建材用滑石粉, 冶金用滑石粉, 电子级滑石粉, 纳米滑石粉, 改性滑石粉, 超细滑石粉, 高纯度滑石粉, 复合滑石粉, 功能性滑石粉

检测方法

动态光散射法（DLS）：通过测量颗粒布朗运动引起的散射光波动分析Zeta电位。

电泳光散射法（ELS）：利用电场作用下颗粒的电泳迁移率计算Zeta电位。

激光多普勒电泳法：结合激光多普勒效应与电泳技术测定颗粒迁移速度。

显微电泳法：通过显微镜观察颗粒在电场中的运动轨迹。

pH滴定法：测定不同pH条件下Zeta电位的变化趋势。

离心沉降法：评估颗粒分散稳定性与Zeta电位的关系。

X射线衍射法（XRD）：分析滑石粉的晶体结构与纯度。

扫描电子显微镜（SEM）：观察颗粒形貌与表面状态。

透射电子显微镜（TEM）：提供纳米级颗粒的形貌与尺寸信息。

比表面积分析（BET）：通过气体吸附法测定颗粒比表面积。

热重分析法（TGA）：检测滑石粉的热稳定性与水分含量。

原子吸收光谱法（AAS）：测定重金属元素含量。

电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：高灵敏度分析微量元素。

傅里叶变换红外光谱法（FTIR）：鉴定表面官能团与化学组成。

紫外-可见分光光度法（UV-Vis）：评估滑石粉的光学性能。

检测仪器

Zeta电位分析仪, 激光粒度分析仪, 比表面积分析仪, 电导率仪, pH计, 离心机, 流变仪, 白度计, 紫外分光光度计, 原子吸收光谱仪, 扫描电子显微镜, 透射电子显微镜, X射线衍射仪, 热重分析仪, 傅里叶变换红外光谱仪

荣誉资质

北检院部分仪器展示