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增碳剂石墨片层厚度测定

首页 > 业务领域 > 检测项目 浏览: 发布日期:2025-06-24 05:12:57

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信息概要

增碳剂石墨片层厚度测定是评估增碳剂质量的关键指标之一,直接影响其在冶金、铸造等工业中的应用效果。石墨片层厚度决定了增碳剂的碳含量、溶解速度及稳定性,因此精准测定对于优化生产工艺、提升产品质量具有重要意义。第三方检测机构通过专业设备与方法,为客户提供准确、可靠的检测数据,确保增碳剂性能符合行业标准及客户需求。

检测项目

石墨片层厚度,碳含量,硫含量,灰分,挥发分,固定碳,水分,密度,粒度分布,比表面积,孔隙率,电阻率,导热系数,抗压强度,耐磨性,微量元素含量,氧含量,氮含量,氢含量,金属杂质含量

检测范围

人造石墨增碳剂,天然石墨增碳剂,石油焦增碳剂,沥青焦增碳剂,煅后石油焦增碳剂,石墨化增碳剂,半石墨化增碳剂,碳化硅增碳剂,碳化钙增碳剂,碳化硼增碳剂,碳化钛增碳剂,碳化钨增碳剂,碳化钒增碳剂,碳化锆增碳剂,碳化铌增碳剂,碳化钽增碳剂,碳化钼增碳剂,碳化铬增碳剂,碳化铁增碳剂,碳化镍增碳剂

检测方法

X射线衍射法(XRD):通过分析衍射图谱计算石墨片层间距及厚度。

扫描电子显微镜(SEM):直接观察石墨片层形貌并测量厚度。

透射电子显微镜(TEM):高分辨率成像测定片层厚度及结构。

拉曼光谱法:通过特征峰分析石墨片层堆叠状态。

原子力显微镜(AFM):纳米级精度测量片层表面形貌及厚度。

热重分析法(TGA):测定碳含量及热稳定性。

化学分析法:湿法消解后测定元素含量。

激光粒度分析仪:分析增碳剂颗粒大小及分布。

比表面积分析仪(BET):通过气体吸附法计算比表面积。

电阻率测试仪:评估导电性能。

导热系数测定仪:测量材料导热能力。

灰分测定仪:高温灼烧后测定残留灰分。

挥发分测定仪:加热后测定挥发性物质含量。

水分测定仪:通过干燥法计算水分含量。

电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES):检测金属杂质含量。

检测仪器

X射线衍射仪,扫描电子显微镜,透射电子显微镜,拉曼光谱仪,原子力显微镜,热重分析仪,激光粒度分析仪,比表面积分析仪,电阻率测试仪,导热系数测定仪,灰分测定仪,挥发分测定仪,水分测定仪,电感耦合等离子体发射光谱仪,紫外可见分光光度计

荣誉资质

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