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碳黑碳同位素源解析

首页 > 业务领域 > 检测项目 浏览: 发布日期:2025-06-26 11:55:35

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信息概要

碳黑碳同位素源解析是一种通过分析碳黑中碳同位素组成来追溯其来源的技术。该技术广泛应用于环境监测、工业排放评估、气候变化研究等领域。检测碳黑的碳同位素组成对于识别污染源、评估环境质量以及制定减排政策具有重要意义。通过精确的源解析,可以明确不同排放源对环境中碳黑的贡献比例,为环境治理提供科学依据。

检测项目

δ13C值, 总碳含量, 有机碳含量, 元素碳含量, 碳黑浓度, 碳黑粒径分布, 碳黑形貌分析, 碳黑表面官能团, 碳黑氧化程度, 碳黑热稳定性, 碳黑吸附性能, 碳黑导电性, 碳黑比表面积, 碳黑孔隙率, 碳黑密度, 碳黑灰分含量, 碳黑挥发分, 碳黑重金属含量, 碳黑多环芳烃含量, 碳黑元素分析

检测范围

工业烟尘, 汽车尾气, 柴油机排放, 燃煤排放, 生物质燃烧, 森林火灾, 建筑扬尘, 道路扬尘, 船舶排放, 航空排放, 石油焦燃烧, 垃圾焚烧, 钢铁冶炼, 水泥生产, 化工生产, 印刷行业, 橡胶生产, 塑料生产, 涂料生产, 食品加工

检测方法

同位素比值质谱法(IRMS):通过测量样品中碳同位素的比值来确定δ13C值。

元素分析-同位素比值质谱联用法(EA-IRMS):结合元素分析和同位素比值质谱,用于测定总碳含量和δ13C值。

热光透射法(TOT):用于区分有机碳和元素碳的含量。

热光反射法(TOR):与TOT类似,通过反射信号测定碳黑含量。

扫描电子显微镜(SEM):用于观察碳黑的形貌和粒径分布。

透射电子显微镜(TEM):提供更高分辨率的碳黑形貌分析。

X射线光电子能谱(XPS):用于分析碳黑表面官能团和化学状态。

傅里叶变换红外光谱(FTIR):测定碳黑表面的官能团和氧化程度。

比表面积分析(BET):通过氮气吸附测定碳黑的比表面积和孔隙率。

热重分析(TGA):用于测定碳黑的热稳定性和挥发分含量。

电感耦合等离子体质谱(ICP-MS):用于测定碳黑中的重金属含量。

气相色谱-质谱联用法(GC-MS):用于分析碳黑中的多环芳烃含量。

激光粒度分析仪:测定碳黑的粒径分布。

拉曼光谱:用于分析碳黑的结构和缺陷。

紫外-可见分光光度法:用于测定碳黑的吸附性能和光学性质。

检测仪器

同位素比值质谱仪, 元素分析仪, 热光透射分析仪, 热光反射分析仪, 扫描电子显微镜, 透射电子显微镜, X射线光电子能谱仪, 傅里叶变换红外光谱仪, 比表面积分析仪, 热重分析仪, 电感耦合等离子体质谱仪, 气相色谱-质谱联用仪, 激光粒度分析仪, 拉曼光谱仪, 紫外-可见分光光度计

荣誉资质

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