信息概要

AlGaN合成粉末是一种重要的半导体材料，广泛应用于光电子器件、高频器件等领域。其纯度直接影响到材料的性能和应用效果，因此纯度检测是确保产品质量的关键环节。第三方检测机构提供专业的AlGaN合成粉末纯度检测服务，通过精准的检测手段，为客户提供可靠的数据支持，确保材料符合行业标准和应用需求。检测的重要性在于能够及时发现材料中的杂质或缺陷，优化生产工艺，提高产品竞争力。

检测项目

铝含量, 镓含量, 氮含量, 氧含量, 碳含量, 硅含量, 铁含量, 铜含量, 锌含量, 镍含量, 铬含量, 硫含量, 氯含量, 氟含量, 氢含量, 粒径分布, 比表面积, 密度, 晶体结构, 相纯度, 杂质总量, 电导率, 热导率, 光学性能, 化学稳定性

检测范围

高纯AlGaN粉末, 掺杂AlGaN粉末, 纳米级AlGaN粉末, 微米级AlGaN粉末, 单晶AlGaN粉末, 多晶AlGaN粉末, 无定形AlGaN粉末, 低氧AlGaN粉末, 低碳AlGaN粉末, 高铝AlGaN粉末, 高镓AlGaN粉末, 氮化铝镓粉末, 氮化镓铝粉末, 半导体级AlGaN粉末, 光电级AlGaN粉末, 高频器件级AlGaN粉末, 涂层用AlGaN粉末, 烧结用AlGaN粉末, 复合材料用AlGaN粉末, 研究级AlGaN粉末

检测方法

X射线荧光光谱法（XRF）：用于测定元素组成及含量。

电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：高灵敏度检测痕量元素。

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：测定金属元素含量。

碳硫分析仪：检测碳和硫的含量。

氧氮分析仪：测定氧和氮的含量。

氢分析仪：检测氢的含量。

X射线衍射法（XRD）：分析晶体结构和相纯度。

扫描电子显微镜（SEM）：观察粉末形貌和粒径分布。

透射电子显微镜（TEM）：高分辨率分析微观结构。

比表面积分析仪（BET）：测定粉末的比表面积。

激光粒度分析仪：测量粒径分布。

热重分析仪（TGA）：检测热稳定性和挥发物含量。

差示扫描量热仪（DSC）：分析热性能。

四探针电阻率测试仪：测量电导率。

傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）：分析化学键和官能团。

检测仪器

X射线荧光光谱仪, 电感耦合等离子体质谱仪, 电感耦合等离子体发射光谱仪, 碳硫分析仪, 氧氮分析仪, 氢分析仪, X射线衍射仪, 扫描电子显微镜, 透射电子显微镜, 比表面积分析仪, 激光粒度分析仪, 热重分析仪, 差示扫描量热仪, 四探针电阻率测试仪, 傅里叶变换红外光谱仪

荣誉资质

北检院部分仪器展示