信息概要

氧化铝表面羟基含量检测是一项针对氧化铝材料表面羟基（-OH）基团的定量分析服务，广泛应用于催化剂、陶瓷、电子材料等领域。羟基含量直接影响氧化铝的吸附性能、化学活性和热稳定性，因此准确检测其含量对产品质量控制、工艺优化及性能评估至关重要。本检测服务通过专业仪器和方法，为客户提供精准、可靠的羟基含量数据，助力材料研发与应用。

检测项目

羟基含量，表面密度，吸附水含量，热失重分析，红外光谱特征峰，比表面积，孔径分布，酸度，碱度，化学稳定性，热稳定性，表面能，润湿性，表面形貌，元素组成，结晶度，分散性，团聚指数，表面电荷，zeta电位

检测范围

α-氧化铝，γ-氧化铝，θ-氧化铝，δ-氧化铝，η-氧化铝，χ-氧化铝，κ-氧化铝，ρ-氧化铝，无定形氧化铝，纳米氧化铝，高纯氧化铝，多孔氧化铝，纤维状氧化铝，片状氧化铝，球形氧化铝，改性氧化铝，掺杂氧化铝，涂层氧化铝，复合氧化铝，工业级氧化铝

检测方法

热重分析法（TGA）：通过加热样品测量羟基分解导致的质量变化。

红外光谱法（FTIR）：利用红外吸收峰定量分析表面羟基。

化学滴定法：通过酸碱滴定测定表面羟基的活性位点。

核磁共振法（NMR）：分析羟基氢原子的化学环境。

X射线光电子能谱（XPS）：检测表面羟基的电子结合能。

程序升温脱附（TPD）：加热脱附羟基并定量释放的水或气体。

比表面积分析（BET）：结合羟基含量计算表面密度。

拉曼光谱法：通过拉曼散射峰识别羟基振动模式。

质谱分析法（MS）：检测羟基分解产物的质荷比。

紫外可见光谱法（UV-Vis）：间接分析羟基相关光学特性。

原子力显微镜（AFM）：观察表面羟基分布的形貌特征。

电化学阻抗谱（EIS）：评估羟基对材料电化学行为的影响。

气相色谱法（GC）：分离并定量羟基热解产物。

离子色谱法（IC）：检测羟基释放的离子物种。

静态接触角测量：间接反映羟基对表面润湿性的影响。

检测仪器

热重分析仪，傅里叶变换红外光谱仪，酸碱滴定仪，核磁共振仪，X射线光电子能谱仪，程序升温脱附仪，比表面积分析仪，拉曼光谱仪，质谱仪，紫外可见分光光度计，原子力显微镜，电化学工作站，气相色谱仪，离子色谱仪，接触角测量仪

荣誉资质

北检院部分仪器展示