信息概要

银粉包覆层厚度TEM检测是一种通过透射电子显微镜（TEM）对银粉表面包覆层厚度进行精确测量的技术。该检测在电子材料、导电浆料、催化剂等领域具有重要意义，能够确保产品性能的稳定性和可靠性。通过TEM检测，可以直观观察包覆层的微观结构，评估其均匀性、致密性以及与基体的结合情况，为生产工艺优化和质量控制提供关键数据支持。

检测项目

包覆层厚度, 包覆层均匀性, 包覆层致密性, 包覆层与基体结合强度, 包覆层成分分析, 银粉粒径分布, 包覆层表面粗糙度, 包覆层晶体结构, 包覆层缺陷检测, 银粉纯度, 包覆层氧化程度, 包覆层密度, 包覆层孔隙率, 包覆层热稳定性, 包覆层电导率, 包覆层化学稳定性, 包覆层机械性能, 包覆层形貌分析, 银粉分散性, 包覆层界面特性

检测范围

电子导电银粉, 催化剂用银粉, 抗菌材料用银粉, 导电浆料用银粉, 光伏材料用银粉, 传感器用银粉, 医疗材料用银粉, 陶瓷添加剂用银粉, 涂料用银粉, 印刷电子用银粉, 纳米银粉, 微米银粉, 高纯银粉, 复合银粉, 包覆银粉, 合金银粉, 功能性银粉, 导电胶用银粉, 电极材料用银粉, 3D打印用银粉

检测方法

透射电子显微镜（TEM）法：通过高分辨率成像直接测量包覆层厚度。

X射线能谱（EDS）法：结合TEM进行元素分布分析。

扫描电子显微镜（SEM）法：观察包覆层表面形貌。

X射线衍射（XRD）法：分析包覆层晶体结构。

原子力显微镜（AFM）法：测量包覆层表面粗糙度。

热重分析（TGA）法：评估包覆层热稳定性。

电化学阻抗谱（EIS）法：测试包覆层电导率。

傅里叶变换红外光谱（FTIR）法：检测包覆层化学组成。

拉曼光谱法：分析包覆层分子结构。

紫外-可见光谱（UV-Vis）法：测定包覆层光学特性。

动态光散射（DLS）法：测量银粉粒径分布。

比表面积分析（BET）法：评估包覆层孔隙率。

纳米压痕法：测试包覆层机械性能。

聚焦离子束（FIB）法：制备TEM样品并观察截面。

电子能量损失谱（EELS）法：分析包覆层元素化学状态。

检测仪器

透射电子显微镜（TEM）, 扫描电子显微镜（SEM）, X射线能谱仪（EDS）, X射线衍射仪（XRD）, 原子力显微镜（AFM）, 热重分析仪（TGA）, 电化学工作站, 傅里叶变换红外光谱仪（FTIR）, 拉曼光谱仪, 紫外-可见分光光度计（UV-Vis）, 动态光散射仪（DLS）, 比表面积分析仪（BET）, 纳米压痕仪, 聚焦离子束显微镜（FIB）, 电子能量损失谱仪（EELS）

荣誉资质

北检院部分仪器展示