信息概要

封装应力检测是评估电子元器件封装过程中产生的应力对产品性能和可靠性的影响的重要检测项目。该检测通过分析封装材料、结构及工艺参数，确保产品在后续使用中具备良好的机械稳定性和电气性能。封装应力可能导致芯片开裂、焊点失效或性能退化，因此检测对于提高产品良率、延长使用寿命及满足行业标准至关重要。第三方检测机构提供专业、高效的封装应力检测服务，帮助客户优化封装工艺并提升产品质量。

检测项目

封装体残余应力, 芯片表面应力分布, 焊球剪切强度, 引线键合拉力, 封装翘曲度, 热机械疲劳性能, 温度循环应力, 湿度敏感等级, 封装材料热膨胀系数, 界面分层风险, 模塑料固化应力, 芯片贴装胶粘强度, 封装气密性, 振动疲劳应力, 冲击应力测试, 弯曲应力测试, 封装内部空洞检测, 金属层疲劳寿命, 塑封料收缩率, 封装结构有限元分析

检测范围

QFN封装, BGA封装, CSP封装, SOP封装, QFP封装, DIP封装, LGA封装, PLCC封装, TSOP封装, COB封装, SiP封装, MCM封装, Flip Chip封装, 3D封装, WLCSP封装, FCBGA封装, PBGA封装, TAB封装, COG封装, FOWLP封装

检测方法

X射线衍射法：通过X射线衍射分析封装材料内部的残余应力分布。

拉曼光谱法：利用拉曼光谱测量芯片表面局部应力状态。

数字图像相关法：通过图像分析技术获取封装体变形和应力场。

微区光弹性法：基于光弹性原理测量透明封装材料的应力分布。

纳米压痕法：通过纳米压痕仪测量封装材料的局部力学性能。

热机械分析法：评估封装材料在不同温度下的应力变化。

声发射检测法：监测封装过程中材料开裂或分层的声发射信号。

红外热像法：利用红外热像仪分析封装体的热应力分布。

扫描声学显微镜：检测封装内部缺陷和应力集中区域。

有限元模拟法：通过计算机仿真预测封装结构的应力分布。

翘曲度测试法：测量封装体在温度变化下的平面度变化。

剪切力测试法：评估焊球或粘接材料的机械强度。

拉力测试法：测量引线键合或芯片贴装的抗拉强度。

温度循环测试：模拟温度变化对封装应力的影响。

湿度敏感测试：评估湿度对封装材料应力的作用。

检测仪器

X射线衍射仪, 拉曼光谱仪, 数字图像相关系统, 光弹性测试仪, 纳米压痕仪, 热机械分析仪, 声发射检测系统, 红外热像仪, 扫描声学显微镜, 有限元分析软件, 翘曲度测量仪, 剪切力测试机, 拉力测试机, 温度循环箱, 湿度敏感测试箱

荣誉资质

北检院部分仪器展示