信息概要

扫描电镜图像分析试验是一种通过扫描电子显微镜（SEM）对样品表面形貌、成分及结构进行高分辨率成像和分析的技术。该技术广泛应用于材料科学、生物医学、电子器件、纳米技术等领域，能够提供样品的微观形貌、元素分布、晶体结构等关键信息。检测的重要性在于帮助客户精确了解材料性能、缺陷成因、工艺优化等，为产品质量控制、研发改进及故障分析提供科学依据。

检测项目

表面形貌分析，元素成分分析，能谱分析（EDS），背散射电子成像（BSE），二次电子成像（SE），颗粒尺寸分布，孔隙率测定，涂层厚度测量，界面结合状态，晶体结构分析，微观缺陷检测，污染物分析，形貌对比度，三维重构，纳米级分辨率成像，导电性分析，非导电样品处理，电子通道对比成像，样品制备评估，微观力学性能测试

检测范围

金属材料，陶瓷材料，高分子材料，复合材料，半导体器件，纳米材料，生物样品，薄膜涂层，电子元器件，矿物样品，纤维材料，粉末材料，催化剂，电池材料，医疗器械，环境颗粒物，聚合物，碳材料，玻璃材料，地质样品

检测方法

扫描电子显微镜成像（SEM）：通过电子束扫描样品表面获取高分辨率图像。

能谱分析（EDS）：利用X射线能谱仪测定样品元素成分。

背散射电子成像（BSE）：通过背散射电子信号分析样品原子序数差异。

二次电子成像（SE）：用于观察样品表面形貌细节。

电子通道对比成像（ECCI）：分析晶体缺陷和应变分布。

低真空模式：适用于非导电样品，避免电荷积累。

环境扫描电镜（ESEM）：可在低真空或湿润环境下观察样品。

三维重构技术：通过多角度成像重建样品三维结构。

纳米级分辨率成像：实现亚纳米级表面形貌观察。

电子背散射衍射（EBSD）：分析晶体取向和晶界特征。

动态拉伸测试：结合拉伸台观察材料变形过程。

冷冻电镜技术：用于生物样品的高分辨率成像。

聚焦离子束（FIB）切割：制备样品截面或特定区域分析。

原位加热/冷却实验：观察温度变化对样品的影响。

电子束诱导电流（EBIC）：分析半导体器件电学性能。

检测仪器

扫描电子显微镜（SEM），能谱仪（EDS），背散射电子探测器（BSE），二次电子探测器（SE），电子背散射衍射仪（EBSD），环境扫描电镜（ESEM），聚焦离子束扫描电镜（FIB-SEM），冷冻电镜（Cryo-SEM），纳米操纵系统，离子溅射仪，样品切割机，真空镀膜机，能谱分析软件，三维重构软件，电子束光刻系统

荣誉资质

北检院部分仪器展示