信息概要

金属有机框架（MOFs）是一类由金属离子或簇与有机配体通过配位键结合形成的多孔晶体材料，具有高比表面积、可调控的孔径和功能化位点等特性。质子传导率和电荷密度是评估MOFs材料在质子交换膜燃料电池、电解池等能源器件中性能的关键参数。检测这些参数对于材料研发、性能优化及实际应用至关重要。第三方检测机构提供专业的MOFs质子传导率和电荷密度检测服务，确保数据的准确性和可靠性，为科研机构和企业提供技术支持。

检测项目

质子传导率，电荷密度，比表面积，孔隙率，孔径分布，热稳定性，化学稳定性，电导率，离子迁移数，质子扩散系数，晶体结构，元素组成，官能团分析，水吸附性能，气体吸附性能，机械强度，电化学阻抗，介电常数，表面电位，Zeta电位

检测范围

ZIF系列MOFs，UiO系列MOFs，MIL系列MOFs，HKUST系列MOFs，PCN系列MOFs，NU系列MOFs，IRMOFs，COFs，MOFs衍生材料，混合基质MOFs，功能化MOFs，手性MOFs，柔性MOFs，导电MOFs，磁性MOFs，发光MOFs，生物相容性MOFs，纳米MOFs，薄膜MOFs，复合MOFs

检测方法

电化学阻抗谱法（EIS）：通过测量材料在不同频率下的阻抗，计算质子传导率。

四探针法：用于测量材料的体相电导率。

X射线衍射（XRD）：分析材料的晶体结构和相纯度。

氮气吸附-脱附测试：测定材料的比表面积和孔径分布。

热重分析（TGA）：评估材料的热稳定性。

傅里叶变换红外光谱（FTIR）：鉴定材料中的官能团。

扫描电子显微镜（SEM）：观察材料的形貌和微观结构。

透射电子显微镜（TEM）：进一步分析材料的纳米结构。

X射线光电子能谱（XPS）：测定材料的表面元素组成和化学状态。

原子力显微镜（AFM）：测量材料的表面形貌和力学性能。

动态光散射（DLS）：分析材料在溶液中的粒径分布。

Zeta电位测试：评估材料的表面电荷特性。

电化学工作站：用于测量材料的电化学性能。

气相色谱（GC）：分析材料的气体吸附性能。

质谱（MS）：用于材料的元素和分子量分析。

检测仪器

电化学工作站，四探针测试仪，X射线衍射仪，比表面积分析仪，热重分析仪，傅里叶变换红外光谱仪，扫描电子显微镜，透射电子显微镜，X射线光电子能谱仪，原子力显微镜，动态光散射仪，Zeta电位分析仪，气相色谱仪，质谱仪，紫外-可见分光光度计

荣誉资质

北检院部分仪器展示