信息概要

微流控芯片回弹测试是针对微流控芯片在受力后恢复原状能力的专项检测。微流控芯片广泛应用于生物医学、化学分析、环境监测等领域，其回弹性能直接影响芯片的可靠性和使用寿命。通过回弹测试，可以评估芯片材料的弹性、耐久性以及结构稳定性，确保其在复杂工况下的性能表现。检测的重要性在于为芯片设计优化、质量控制及实际应用提供数据支持，避免因材料或结构缺陷导致的功能失效。

检测项目

回弹率, 弹性模量, 屈服强度, 断裂伸长率, 硬度, 疲劳寿命, 应力松弛, 蠕变性能, 动态力学性能, 压缩回弹, 弯曲回弹, 拉伸回弹, 扭转回弹, 冲击回弹, 温度依赖性, 湿度依赖性, 化学稳定性, 表面粗糙度, 尺寸稳定性, 循环载荷性能

检测范围

PDMS微流控芯片, 玻璃微流控芯片, 硅基微流控芯片, 聚合物微流控芯片, 纸质微流控芯片, 金属微流控芯片, 复合材质微流控芯片, 柔性微流控芯片, 刚性微流控芯片, 多层微流控芯片, 单层微流控芯片, 生物兼容性微流控芯片, 光学微流控芯片, 电化学微流控芯片, 微反应器芯片, 微混合器芯片, 微分离芯片, 微传感器芯片, 微执行器芯片, 仿生微流控芯片

检测方法

静态压缩测试：通过恒定载荷测量芯片的回弹变形量。

动态力学分析（DMA）：评估芯片在不同频率和温度下的力学性能。

拉伸试验：测定芯片在拉伸载荷下的回弹特性。

三点弯曲测试：分析芯片在弯曲载荷下的弹性恢复能力。

扭转测试：评估芯片在扭转载荷下的回弹性能。

冲击回弹测试：模拟瞬时冲击后的回弹行为。

疲劳测试：检测芯片在循环载荷下的回弹稳定性。

蠕变测试：评估芯片在长期载荷下的变形恢复能力。

应力松弛测试：分析芯片在恒定应变下的应力衰减。

温度循环测试：考察温度变化对回弹性能的影响。

湿度循环测试：评估湿度变化对回弹性能的影响。

化学浸泡测试：检测芯片在化学环境中的回弹稳定性。

表面形貌分析：通过显微镜或AFM观察回弹前后的表面变化。

尺寸测量：使用精密仪器测量回弹前后的尺寸差异。

光学干涉法：通过光干涉技术检测微米级回弹变形。

检测仪器

万能材料试验机, 动态力学分析仪, 硬度计, 疲劳试验机, 蠕变试验机, 冲击试验机, 扭转试验机, 三点弯曲试验机, 光学显微镜, 原子力显微镜, 激光干涉仪, 热重分析仪, 差示扫描量热仪, 环境试验箱, 表面粗糙度仪

荣誉资质

北检院部分仪器展示