冷热失效对策实验
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信息概要
冷热失效对策实验是针对产品在极端温度环境下的性能稳定性进行的专项测试,旨在评估产品在高温、低温或温度循环条件下的耐受能力。该类检测对于电子元器件、汽车零部件、航空航天设备等领域的质量控制至关重要,可有效预防因温度变化导致的产品失效,提升产品可靠性和安全性。通过第三方检测机构的专业服务,企业能够全面掌握产品在冷热环境中的表现,为改进设计和生产工艺提供数据支持。
检测项目
高温存储测试:评估产品在高温环境下长期存储后的性能变化。
低温存储测试:检测产品在低温环境下长期存储后的功能稳定性。
温度循环测试:模拟产品在快速温度变化环境中的耐受能力。
热冲击测试:验证产品在极端温度骤变情况下的可靠性。
低温启动测试:检测产品在低温环境下的启动性能。
高温运行测试:评估产品在高温环境下的持续工作能力。
湿热循环测试:模拟高湿度与温度交替变化对产品的影响。
冷凝测试:评估产品在冷凝环境中的性能表现。
温度梯度测试:检测产品在不同温度区域间的性能差异。
高温高湿测试:验证产品在高温高湿环境下的耐久性。
低温脆性测试:评估材料在低温下的脆化倾向。
热老化测试:模拟长期高温环境对产品寿命的影响。
冷启动电流测试:测量产品在低温启动时的电流特性。
温度偏差测试:检测产品在标称温度范围内的性能波动。
热阻测试:评估产品的散热性能。
低温存储恢复测试:验证产品从低温恢复到常温后的功能。
高温存储恢复测试:验证产品从高温恢复到常温后的功能。
温度循环寿命测试:评估产品在多次温度循环后的使用寿命。
低温运行电流测试:测量产品在低温工作时的电流特性。
高温运行电压测试:测量产品在高温工作时的电压特性。
温度冲击恢复测试:验证产品在温度冲击后的功能恢复能力。
低温存储漏电流测试:检测产品在低温存储后的漏电流变化。
高温存储绝缘电阻测试:测量产品在高温存储后的绝缘性能。
低温运行功耗测试:评估产品在低温环境下的能耗表现。
高温运行效率测试:评估产品在高温环境下的工作效率。
温度循环密封性测试:验证产品在温度变化下的密封性能。
低温存储尺寸稳定性测试:检测产品在低温存储后的尺寸变化。
高温存储材料变形测试:评估材料在高温环境下的形变倾向。
温度冲击机械强度测试:验证产品在温度冲击后的机械性能。
低温运行噪音测试:测量产品在低温工作时的噪音水平。
检测范围
电子元器件,汽车零部件,航空航天设备,家用电器,工业设备,医疗设备,通讯设备,电池产品,LED照明,光伏组件,半导体器件,塑料制品,橡胶制品,金属制品,涂料涂层,包装材料,线缆产品,传感器,继电器,连接器,电容器,电阻器,变压器,电机,PCB板,显示屏,电源模块,散热器,密封件,绝缘材料
检测方法
GB/T 2423.1-2008:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温。
GB/T 2423.2-2008:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温。
GB/T 2423.22-2012:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化。
IEC 60068-2-14:环境试验 第2-14部分:试验 试验N:温度变化。
MIL-STD-810G:美国军用标准环境工程考虑和实验室试验方法。
JESD22-A104:温度循环测试标准。
IPC-TM-650:印制板测试方法手册中的温度相关测试。
ISO 16750-4:道路车辆电气和电子设备的环境条件和试验第4部分:气候负荷。
GB/T 13543-1992:电子设备用固定电容器试验方法。
GB/T 17626.7-2008:电磁兼容 试验和测量技术 供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则。
ASTM D746:塑料和弹性体在低温下脆化温度的测试方法。
IEC 60749:半导体器件机械和气候试验方法。
GB/T 2951.12-2008:电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第12部分:通用试验方法热老化试验方法。
UL 746B:聚合物材料长期性能评价。
JIS C 60068-2-1:环境试验方法电气电子(低温试验)。
GB/T 5169.21-2006:电工电子产品着火危险试验第21部分:非正常热球压试验。
ISO 4892-2:塑料实验室光源暴露试验方法第2部分:氙弧灯。
ASTM E595:材料在真空环境中总质量损失和收集挥发性凝结物的标准测试方法。
MIL-STD-883:微电子器件试验方法和程序。
GB/T 7141-2008:塑料热老化试验方法。
检测仪器
高低温试验箱,温度冲击试验箱,恒温恒湿试验箱,热老化试验箱,冷热冲击试验机,温湿度循环试验箱,低温存储箱,高温存储箱,热变形测试仪,热机械分析仪,差示扫描量热仪,热重分析仪,红外热像仪,温度记录仪,数据采集系统
荣誉资质
北检院部分仪器展示