信息概要

氮化硅陶瓷片是一种高性能结构陶瓷材料，广泛应用于航空航天、电子、机械等领域。晶粒尺寸是影响其力学性能、热学性能和耐磨性的关键参数之一。通过专业的晶粒尺寸测试，可以评估材料的微观结构均匀性、烧结工艺合理性以及最终产品的性能稳定性。检测的重要性在于确保氮化硅陶瓷片满足工业应用中对强度、韧性和可靠性的严格要求，同时为生产工艺优化和质量控制提供科学依据。

检测项目

晶粒平均尺寸,晶粒尺寸分布,最大晶粒尺寸,最小晶粒尺寸,晶粒长径比,晶界宽度,孔隙率,气孔尺寸,气孔分布,密度,硬度,断裂韧性,抗弯强度,弹性模量,热膨胀系数,导热系数,介电常数,介电损耗,耐腐蚀性,耐磨性

检测范围

反应烧结氮化硅陶瓷片,热压烧结氮化硅陶瓷片,气压烧结氮化硅陶瓷片,无压烧结氮化硅陶瓷片,高纯氮化硅陶瓷片,掺杂氮化硅陶瓷片,纳米氮化硅陶瓷片,多孔氮化硅陶瓷片,致密氮化硅陶瓷片,复合氮化硅陶瓷片,透明氮化硅陶瓷片,导电氮化硅陶瓷片,绝缘氮化硅陶瓷片,耐高温氮化硅陶瓷片,耐磨氮化硅陶瓷片,耐腐蚀氮化硅陶瓷片,生物医用氮化硅陶瓷片,电子器件用氮化硅陶瓷片,航空航天用氮化硅陶瓷片,工业刀具用氮化硅陶瓷片

检测方法

光学显微镜法：通过光学显微镜观察样品表面，测量晶粒尺寸。

扫描电子显微镜法（SEM）：利用电子束扫描样品表面，获取高分辨率图像分析晶粒尺寸。

透射电子显微镜法（TEM）：通过电子束穿透样品，观察内部晶粒结构。

X射线衍射法（XRD）：通过衍射峰分析计算晶粒尺寸。

激光散射法：利用激光散射原理测量晶粒尺寸分布。

图像分析法：对显微图像进行数字化处理，统计晶粒尺寸参数。

比重法：通过测量样品密度计算孔隙率。

压汞法：利用汞侵入孔隙测量孔径分布。

显微硬度计法：测量材料局部硬度。

三点弯曲法：测试材料的抗弯强度。

单边缺口梁法：测定材料的断裂韧性。

动态弹性模量测试法：通过共振频率测量弹性模量。

热膨胀仪法：测量材料的热膨胀系数。

激光闪射法：测定材料的导热系数。

阻抗分析法：测量材料的介电性能。

检测仪器

光学显微镜,扫描电子显微镜,透射电子显微镜,X射线衍射仪,激光粒度分析仪,图像分析系统,比重计,压汞仪,显微硬度计,万能材料试验机,动态弹性模量测试仪,热膨胀仪,激光导热仪,阻抗分析仪,磨损试验机

荣誉资质

北检院部分仪器展示