信息概要

芯片封装-196℃热应力检测是一种针对芯片封装材料在极端低温环境下性能稳定性的专项测试。该检测通过模拟-196℃的极低温条件，评估芯片封装材料的热应力变化、结构完整性以及可靠性，确保其在深低温应用场景（如航天、超导、医疗等）中的性能表现。检测的重要性在于避免因热应力导致的封装开裂、分层或电气性能失效，从而保障芯片在极端环境下的长期稳定运行。

检测项目

热膨胀系数：测量材料在-196℃下的尺寸变化率。

热导率：评估材料在极低温环境下的导热性能。

抗拉强度：检测材料在低温下的最大拉伸承受力。

断裂韧性：分析材料在低温下的抗裂纹扩展能力。

硬度变化：测试材料在-196℃下的硬度值变化。

粘接强度：评估封装材料与芯片的粘接界面稳定性。

残余应力：测量低温冷却后封装内部的残余应力分布。

气密性：检测封装在低温下的密封性能。

热循环寿命：模拟多次温度循环后的材料耐久性。

介电常数：评估材料在低温下的绝缘性能。

介电损耗：测量低温下材料的能量损耗特性。

热失重：分析材料在低温环境下的质量损失。

形变恢复率：测试材料从低温恢复到常温后的形状复原能力。

疲劳寿命：评估材料在低温交变应力下的使用寿命。

蠕变性能：检测材料在低温持续应力下的变形特性。

热冲击抗性：评估材料在快速温变下的抗冲击能力。

微观结构分析：观察低温下材料的晶格或分子结构变化。

界面分层风险：检测封装材料与芯片的分层可能性。

电气连通性：验证低温下封装内部电路的导通性能。

热阻：测量封装材料在低温下的热阻值。

化学稳定性：分析材料在低温下与周围介质的反应性。

低温脆性：评估材料在-196℃下的脆化倾向。

尺寸稳定性：测试材料在低温下的尺寸保持能力。

应力松弛：测量低温下材料应力的释放速率。

热辐射率：评估材料在低温下的热辐射特性。

抗压强度：检测材料在低温下的最大压缩承受力。

弹性模量：测量材料在低温下的弹性变形能力。

热扩散系数：计算材料在低温下的热扩散速率。

湿气敏感度：评估封装材料在低温下的吸湿影响。

振动抗性：测试材料在低温振动环境下的稳定性。

检测范围

BGA封装,QFN封装,LGA封装,CSP封装,WLCSP封装,Flip Chip封装,SiP封装,PoP封装,COB封装,TSV封装,MCM封装,3D封装,陶瓷封装,塑料封装,金属封装,玻璃封装,晶圆级封装,引线键合封装,倒装焊封装,微机电系统封装,光电子器件封装,功率器件封装,传感器封装,射频器件封装,存储器封装,CPU封装,GPU封装,FPGA封装,ASIC封装,LED封装

检测方法

液氮浸渍法：将样品直接浸入-196℃液氮中模拟极端低温环境。

热机械分析（TMA）：测量材料在低温下的尺寸变化与热膨胀系数。

差示扫描量热法（DSC）：分析材料在低温下的热流变化与相变行为。

动态力学分析（DMA）：评估材料在低温下的动态模量与阻尼特性。

显微红外热成像：通过红外技术观测低温下的温度分布与缺陷。

X射线衍射（XRD）：分析低温下材料的晶体结构变化。

扫描电子显微镜（SEM）：观察材料在低温断裂后的微观形貌。

超声波检测：利用超声波探测封装内部的分层或裂纹。

气密性测试：通过氦质谱检漏仪检测低温下的密封性能。

四点弯曲测试：测量材料在低温下的弯曲强度与韧性。

电阻测试：验证低温下封装电路的电气连通性。

热阻测试仪：量化封装材料在低温下的热阻值。

疲劳试验机：模拟低温交变应力下的材料寿命。

纳米压痕仪：测试材料在低温下的纳米级硬度与模量。

拉曼光谱：分析低温下材料的分子振动与应力分布。

热循环试验箱：进行多次-196℃至常温的温度循环测试。

低温拉伸试验机：测量材料在极低温下的拉伸性能。

介电谱仪：评估材料在低温下的介电常数与损耗。

显微CT扫描：三维成像低温下封装内部的结构完整性。

振动台测试：结合低温环境进行机械振动稳定性评估。

检测仪器

液氮罐,热机械分析仪,差示扫描量热仪,动态力学分析仪,红外热成像仪,X射线衍射仪,扫描电子显微镜,超声波探伤仪,氦质谱检漏仪,四点弯曲测试机,电阻测试仪,热阻测试仪,疲劳试验机,纳米压痕仪,拉曼光谱仪

荣誉资质

北检院部分仪器展示