信息概要

微观形貌测试是一种通过高分辨率成像技术分析材料表面形貌的检测方法，广泛应用于材料科学、电子器件、生物医学等领域。该测试能够揭示材料表面的微观结构、缺陷、粗糙度等关键参数，对于产品质量控制、失效分析、研发改进等具有重要意义。作为第三方检测机构，我们提供专业的微观形貌测试服务，确保数据的准确性和可靠性，帮助客户优化生产工艺和提升产品性能。

检测项目

表面粗糙度，平均粒径，粒径分布，孔隙率，孔洞大小，晶粒尺寸，晶界形貌，表面形貌，三维轮廓，高度差，斜率，曲率，纹理方向，各向异性，分形维数，表面积，体积分数，相分布，元素分布，化学成分，厚度，薄膜均匀性，缺陷密度，划痕深度，腐蚀程度，磨损痕迹，涂层附着力，界面形貌，纳米结构，微米结构

检测范围

金属材料，陶瓷材料，聚合物材料，复合材料，半导体材料，纳米材料，薄膜材料，涂层材料，电子元件，医疗器械，汽车部件，航空航天材料，建筑材料，纺织品，纸张，塑料，橡胶，玻璃，晶体，粉末，颗粒，纤维，生物组织，矿石，土壤，水处理材料，能源材料，催化剂，药物，食品

检测方法

扫描电子显微镜（SEM）：利用电子束扫描样品表面，获得高分辨率形貌图像。

原子力显微镜（AFM）：通过探针与样品表面相互作用，测量纳米级形貌。

透射电子显微镜（TEM）：使用电子束穿透薄样品，观察内部微观结构。

光学显微镜：通过可见光放大样品表面，进行初步形貌分析。

共聚焦显微镜：利用激光扫描和针孔技术，获取三维形貌信息。

白光干涉仪：通过干涉条纹测量表面高度和粗糙度。

轮廓仪：使用触针或光学方式扫描表面轮廓。

表面粗糙度仪：专门测量表面粗糙度参数。

粒度分析仪：分析粉末或颗粒的尺寸分布。

比表面积分析仪：通过气体吸附法测量材料比表面积。

X射线衍射（XRD）：分析晶体结构和相组成。

拉曼光谱仪：通过散射光探测分子振动和形貌特征。

红外光谱仪：利用红外吸收分析表面化学基团。

紫外可见分光光度计：测量薄膜厚度和光学性质。

质谱仪：用于表面元素和化学成分分析。

检测仪器

扫描电子显微镜，原子力显微镜，透射电子显微镜，光学显微镜，共聚焦显微镜，白光干涉仪，轮廓仪，表面粗糙度仪，粒度分析仪，比表面积分析仪，X射线衍射仪，拉曼光谱仪，红外光谱仪，紫外可见分光光度计，质谱仪

荣誉资质

北检院部分仪器展示