信息概要

CMOS图像传感器光强测试是评估传感器光电转换性能的关键环节，涉及在不同光照条件下测量其响应特性。该类产品广泛应用于成像设备中，检测服务有助于确保传感器满足行业标准，提升产品可靠性和用户体验。通过专业测试，可以识别潜在问题，优化设计，为制造商提供客观的质量评估数据。

检测项目

灵敏度测试，信噪比测试，动态范围测试，线性度测试，暗电流测试，光响应不均匀性测试，量子效率测试，曝光时间测试，光强范围测试，光谱响应测试，非线性误差测试，温度依赖性测试，湿度影响测试，老化测试，可靠性测试，光强校准测试，光强稳定性测试，光强均匀性测试，光强衰减测试，光强响应时间测试，光强阈值测试，光强饱和度测试，光强噪声测试，光强漂移测试，光强重复性测试，光强准确性测试，光强分辨率测试，光强对比度测试，光强畸变测试，光强色彩还原测试

检测范围

全局快门CMOS，滚动快门CMOS，背照式CMOS，堆栈式CMOS，单色CMOS，彩色CMOS，高分辨率CMOS，低光CMOS，工业级CMOS，消费级CMOS，医疗级CMOS，安防CMOS，汽车CMOS，手机CMOS，监控CMOS，科学CMOS，微型CMOS，高速CMOS，宽动态范围CMOS，低噪声CMOS

检测方法

使用标准光源进行光强校准，通过已知光强的光源对传感器进行校准，确保测量准确性。

光度测量法，利用光度计测量传感器输出的光强值，评估其响应特性。

光谱响应测试，在不同波长光照下测试传感器的光强响应，分析其光谱特性。

动态范围测试，测试传感器从最小到最大光强下的响应范围，评估其适用性。

信噪比测试，测量信号与噪声的比率，判断传感器的图像质量。

线性度测试，检查传感器输出与输入光强之间的线性关系，确保测量精度。

暗电流测试，在无光条件下测量传感器的暗电流，评估其噪声水平。

温度循环测试，在不同温度环境下测试光强性能，验证温度稳定性。

老化测试，长时间运行传感器，测试光强输出的稳定性。

均匀性测试，测试传感器表面不同区域的光强响应均匀性。

曝光时间测试，调整曝光时间，观察光强响应的变化。

光强衰减测试，测试光强随时间的变化情况。

响应时间测试，测量传感器对光强变化的响应速度。

阈值测试，确定传感器能够检测的最小光强值。

饱和度测试，测试传感器在强光下的饱和点。

检测仪器

光度计，光谱仪，积分球，标准光源，示波器，数据采集系统，恒温箱，湿度箱，老化测试箱，显微镜，图像分析软件，校准光源，光强计，光谱辐射计，暗箱

荣誉资质

北检院部分仪器展示