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MLCC介质材料测试

首页 > 业务领域 > 检测项目 浏览: 发布日期:2025-11-25 10:07:09

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信息概要

MLCC介质材料测试是针对多层陶瓷电容器中介质层的性能评估服务,介质材料作为MLCC的核心组成部分,直接影响电容器的电容值、稳定性和可靠性。检测的重要性在于通过科学方法验证材料是否符合国际标准,预防潜在失效,确保产品在高温、高频、高压等苛刻环境下的长期稳定性,从而提升产品质量和寿命。概括而言,检测服务涵盖材料成分分析、电气性能测试、环境可靠性验证等多个方面,为制造商提供全面的质量控制依据。

检测项目

电容值,介电常数,损耗角正切,绝缘电阻,耐压强度,温度系数,频率特性,老化特性,湿度敏感性,机械强度,热冲击性能,焊接耐热性,端子强度,介质层厚度,电极附着力,杂质含量,晶体结构,介电强度,体积电阻率,表面电阻率,击穿电压,电容温度特性,电容电压特性,等效串联电阻,等效串联电感,自谐振频率,温度循环性能,湿热性能,振动性能,冲击性能,盐雾性能,高低温存储性能,寿命测试,介质均匀性,电极材料成分,热膨胀系数

检测范围

0201封装,0402封装,0603封装,0805封装,1206封装,1210封装,1812封装,2225封装,3030封装,X7R介质,Y5V介质,NPO介质,X5R介质,Z5U介质,C0G介质,6.3V电压,10V电压,16V电压,25V电压,50V电压,100V电压,200V电压,500V电压,1000V电压,1pF电容,10pF电容,100pF电容,1nF电容,10nF电容,100nF电容,1μF电容,10μF电容,高频应用,高压应用,高可靠性应用,通用型MLCC,低ESL型MLCC,阵列型MLCC

检测方法

扫描电子显微镜(SEM)分析:用于观察介质材料的表面和断面微观形貌,评估结构完整性。

X射线衍射(XRD)分析:用于鉴定材料的晶体相组成和晶格参数,确保材料一致性。

介电常数测试:通过LCR测量仪计算电容值,得出介电常数,评估电气性能。

损耗角正切测试:使用阻抗分析仪测量介电损耗,判断材料能量损失。

绝缘电阻测试:采用高阻计测量材料在直流电压下的绝缘性能,预防漏电。

耐压强度测试:施加高电压检测击穿电压,验证介质层的绝缘耐力。

热分析(DSC/TGA):差示扫描量热法和热重分析,用于研究材料的热稳定性和分解行为。

温度循环测试:模拟快速温度变化,评估材料在热应力下的可靠性。

湿热测试:在高湿高温环境中进行老化,检查材料的防潮性能。

机械强度测试:如三点弯曲法,测量介质层的抗弯强度,确保机械耐久性。

焊接热测试:模拟焊接过程,评估材料耐热性,防止开裂。

X射线荧光光谱(XRF)分析:用于快速元素成分分析,检测杂质含量。

傅里叶变换红外光谱(FTIR)分析:鉴定有机组分,评估材料纯度。

原子力显微镜(AFM)分析:提供纳米级表面形貌观察,分析粗糙度。

电化学阻抗谱(EIS)分析:研究电极-介质界面特性,评估频率响应。

检测仪器

LCR测量仪,扫描电子显微镜,X射线衍射仪,热分析仪,绝缘电阻测试仪,耐压测试仪,显微镜,厚度测量仪,阻抗分析仪,高阻计,温度循环箱,湿热试验箱,振动台,冲击试验机,盐雾试验箱,X射线荧光光谱仪,傅里叶变换红外光谱仪,原子力显微镜,电化学工作站

荣誉资质

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