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外壳(半导体)检测方法

首页 > 业务领域 > 检测方法 浏览: 发布日期:2024-03-19 20:12:29

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本文主要介绍了关于外壳(半导体)的相关检测方法,检测方法仅供参考,如果您想针对自己的样品定制试验方案,可以咨询我们在线工程师为您服务。

1. 外壳(半导体):外壳检测是指对半导体芯片外壳的材质、结构和尺寸进行检测,以确保半导体芯片的保护性能和电气性能。

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