信息概要

电容器薄膜介质损耗试验是评估电容器性能的重要检测项目之一，主要用于测定薄膜介质在交变电场下的能量损耗特性。该试验对确保电容器的可靠性、稳定性和使用寿命具有重要意义。通过检测介质损耗，可以及时发现材料缺陷、工艺问题或设计不足，从而优化产品性能，提高能效，降低故障率。第三方检测机构提供专业的电容器薄膜介质损耗试验服务，帮助企业满足行业标准、国际规范及客户需求。

检测项目

介质损耗角正切（tanδ）：衡量介质在交变电场中能量损耗的重要参数。

介电常数：反映介质材料存储电能能力的指标。

击穿电压：测定薄膜介质在高压下的绝缘性能。

体积电阻率：评估介质材料的绝缘性能。

表面电阻率：检测介质表面绝缘特性。

电容值：测量电容器的标称电容与实际电容的偏差。

温度特性：分析介质损耗随温度变化的规律。

频率特性：研究介质损耗随频率变化的特性。

耐湿性：评估薄膜介质在潮湿环境下的性能稳定性。

耐热性：测定薄膜介质在高温环境下的性能变化。

耐寒性：检测薄膜介质在低温环境下的性能表现。

耐电压：评估薄膜介质在额定电压下的长期稳定性。

局部放电：检测介质内部或表面的局部放电现象。

老化性能：模拟长期使用后介质损耗的变化。

机械强度：测定薄膜介质的抗拉强度和韧性。

厚度均匀性：评估薄膜介质厚度的分布均匀性。

介电强度：测量介质在单位厚度下的击穿电压。

热收缩率：检测薄膜介质在受热后的尺寸变化。

耐化学性：评估薄膜介质对化学物质的抵抗能力。

耐辐射性：测定薄膜介质在辐射环境下的性能变化。

介电谱分析：通过宽频带测量分析介质损耗特性。

绝缘电阻：测量介质在直流电压下的绝缘性能。

介质极化：研究介质在电场作用下的极化现象。

介质吸收：评估介质在充电和放电过程中的能量吸收。

介质弛豫：分析介质在电场变化后的响应时间。

介质损耗温度系数：计算介质损耗随温度变化的系数。

介质损耗频率系数：计算介质损耗随频率变化的系数。

介质损耗电压系数：计算介质损耗随电压变化的系数。

介质损耗时间系数：计算介质损耗随时间变化的系数。

介质损耗环境系数：评估环境因素对介质损耗的影响。

检测范围

聚丙烯薄膜电容器,聚酯薄膜电容器,聚苯乙烯薄膜电容器,聚四氟乙烯薄膜电容器,聚酰亚胺薄膜电容器,聚乙烯薄膜电容器,聚碳酸酯薄膜电容器,聚砜薄膜电容器,聚对苯二甲酸乙二醇酯薄膜电容器,聚萘二甲酸乙二醇酯薄膜电容器,金属化薄膜电容器,陶瓷薄膜电容器,玻璃薄膜电容器,云母薄膜电容器,纸介薄膜电容器,复合薄膜电容器,高频薄膜电容器,低频薄膜电容器,高压薄膜电容器,低压薄膜电容器,交流薄膜电容器,直流薄膜电容器,脉冲薄膜电容器,电力薄膜电容器,电子薄膜电容器,汽车用薄膜电容器,工业用薄膜电容器,军用薄膜电容器,航空航天用薄膜电容器,医疗用薄膜电容器

检测方法

电桥法：通过平衡电桥测量介质损耗角正切和电容值。

谐振法：利用谐振电路测定介质损耗和介电常数。

高压击穿法：施加高压直至介质击穿，测定击穿电压。

绝缘电阻测试法：通过直流电压测量介质的绝缘电阻。

局部放电测试法：检测介质在高压下的局部放电现象。

热分析法：通过热重分析或差示扫描量热法评估耐热性。

频率扫描法：在不同频率下测量介质损耗特性。

温度循环法：模拟温度变化对介质损耗的影响。

湿热试验法：评估介质在高温高湿环境下的性能。

老化试验法：模拟长期使用后介质损耗的变化。

介电谱法：通过宽频带测量分析介质的介电性能。

极化测试法：研究介质在电场作用下的极化行为。

机械拉伸法：测定薄膜介质的机械强度和延展性。

厚度测量法：利用千分尺或光学仪器测量薄膜厚度。

化学浸泡法：评估介质对化学物质的抵抗能力。

辐射暴露法：测定介质在辐射环境下的性能变化。

介电强度测试法：测量介质在单位厚度下的击穿电压。

热收缩测试法：检测薄膜介质在受热后的尺寸稳定性。

环境模拟法：模拟实际使用环境对介质损耗的影响。

时间域反射法：通过脉冲信号分析介质的介电特性。

检测仪器

高压电桥,介电常数测试仪,击穿电压测试仪,绝缘电阻测试仪,局部放电检测仪,热分析仪,频率响应分析仪,湿热试验箱,老化试验箱,介电谱仪,拉力试验机,厚度测量仪,化学浸泡槽,辐射暴露设备,环境模拟箱

荣誉资质

北检院部分仪器展示