信息概要

纳米尺度相分布透射电镜（TEM）表征是一种高分辨率的显微技术，用于分析材料在纳米尺度下的相分布、晶体结构及成分信息。该技术通过电子束穿透样品，结合衍射和成像模式，提供原子级别的结构细节。检测纳米尺度相分布对于材料科学、纳米技术、半导体及生物医学等领域至关重要，能够帮助研究人员优化材料性能、验证合成工艺并解决失效分析问题。TEM表征服务广泛应用于科研机构、高校实验室及工业研发部门，为新材料开发和产品质量控制提供可靠数据支持。

检测项目

晶体结构分析：确定材料的晶格类型及排列方式。

相分布表征：分析材料中不同相的分布及占比。

晶粒尺寸测量：测定纳米晶粒的平均尺寸及分布。

缺陷分析：观察位错、层错等晶体缺陷。

界面分析：研究相界或晶界的结构特征。

成分分析：通过能谱（EDS）确定元素组成。

高分辨成像：获取原子级别的结构图像。

选区电子衍射：分析特定区域的晶体结构。

应变场分析：测量晶格应变分布。

形貌观察：表征样品的表面形貌及微观结构。

厚度测量：测定样品的局部厚度。

电子能量损失谱（EELS）：分析元素的化学状态。

纳米颗粒分散性：评估颗粒在基体中的分散情况。

取向分析：确定晶粒的结晶学取向。

层状结构表征：分析多层材料的界面及堆叠方式。

孔隙率分析：观察材料中的孔隙分布及尺寸。

复合材料界面：研究不同组分间的结合状态。

非晶结构表征：分析非晶区域的局部有序性。

催化剂活性位点：观察催化剂的表面活性位分布。

量子点分析：测定量子点的尺寸及晶体结构。

生物样品成像：观察生物大分子的纳米结构。

辐照损伤研究：分析电子束辐照对材料的影响。

磁性材料分析：表征磁性材料的畴结构。

超导材料表征：研究超导相的微观结构。

聚合物纳米复合材料：分析填料与基体的相互作用。

薄膜厚度均匀性：评估薄膜的厚度分布。

纳米线/管结构：测定纳米线或管的直径及生长方向。

合金偏析分析：研究元素在合金中的偏析行为。

表面修饰效果：观察表面修饰层的覆盖情况。

原位加热/冷却实验：研究温度变化对结构的影响。

检测范围

金属纳米颗粒，氧化物纳米材料，碳纳米管，量子点，纳米薄膜，聚合物纳米复合材料，生物纳米材料，磁性纳米颗粒，半导体纳米结构，催化剂材料，陶瓷纳米材料，合金纳米颗粒，纳米线，纳米多孔材料，超导材料，纳米药物载体，石墨烯材料，纳米涂层，纳米纤维，纳米晶金属，纳米陶瓷复合材料，纳米磁性材料，纳米生物传感器，纳米电子材料，纳米光学材料，纳米环境材料，纳米能源材料，纳米催化材料，纳米防护材料，纳米医用材料

检测方法

高分辨透射电子显微镜（HRTEM）：提供原子级分辨率的晶格成像。

选区电子衍射（SAED）：分析微小区域的晶体结构。

能量色散X射线光谱（EDS）：测定样品的元素组成。

电子能量损失谱（EELS）：分析元素的化学状态及电子结构。

暗场成像（DF-TEM）：突出特定衍射晶粒的形貌。

明场成像（BF-TEM）：观察样品的整体形貌及对比度。

扫描透射电子显微镜（STEM）：结合高角度环形暗场（HAADF）成像。

电子断层扫描（ET）：三维重构样品的微观结构。

原位TEM技术：实时观察样品在加热、冷却或拉伸下的变化。

电子背散射衍射（EBSD）：分析晶体的取向分布。

会聚束电子衍射（CBED）：精确测定晶格参数及应变。

纳米束电子衍射（NBED）：研究纳米尺度区域的晶体结构。

低剂量电子成像：减少电子束对敏感样品的损伤。

环境透射电镜（ETEM）：在气体或液体环境中观察样品。

电子全息术：测量样品的电场或磁场分布。

动态TEM技术：捕捉快速变化的微观结构。

电子通道衬度成像（ECCI）：观察近表面缺陷。

电子显微术图像处理：通过软件增强图像分辨率。

定量TEM分析：统计晶粒尺寸、缺陷密度等参数。

冷冻电镜（Cryo-TEM）：观察生物样品的原生结构。

检测仪器

透射电子显微镜（TEM），扫描透射电子显微镜（STEM），高分辨透射电子显微镜（HRTEM），能量色散X射线光谱仪（EDS），电子能量损失谱仪（EELS），电子断层扫描系统，原位TEM样品杆，冷冻电镜（Cryo-TEM），环境透射电镜（ETEM），电子背散射衍射仪（EBSD），会聚束电子衍射仪（CBED），纳米束电子衍射仪（NBED），电子全息系统，动态TEM系统，电子通道衬度成像系统

荣誉资质

北检院部分仪器展示