信息概要

AFM纳米颗粒物形貌检测是一种通过原子力显微镜（AFM）技术对纳米颗粒的表面形貌、尺寸分布和物理特性进行高分辨率表征的检测服务。该检测在纳米材料研发、质量控制、环境监测以及生物医学等领域具有重要意义，能够为纳米颗粒的合成、应用及安全性评估提供关键数据支持。通过精确的形貌分析，可以优化生产工艺、确保产品性能一致性，并满足相关行业标准与法规要求。

检测项目

颗粒尺寸分布：测量纳米颗粒的粒径范围及分布均匀性。

表面粗糙度：分析纳米颗粒表面的粗糙程度和均匀性。

颗粒形状：表征纳米颗粒的几何形状（如球形、棒状、片状等）。

高度分析：测量纳米颗粒的垂直高度分布。

表面积：计算纳米颗粒的比表面积。

聚集状态：评估纳米颗粒的分散性或团聚程度。

表面形貌：提供纳米颗粒表面的三维形貌图像。

力学性能：测量纳米颗粒的弹性模量或硬度。

粘附力：分析纳米颗粒与基底的粘附特性。

表面电荷：通过形貌间接评估颗粒的表面电荷分布。

拓扑结构：描述纳米颗粒表面的拓扑特征。

缺陷检测：识别纳米颗粒表面的缺陷或异常结构。

均匀性：评估纳米颗粒在基底上的分布均匀性。

纵横比：计算纳米颗粒的长径比或宽高比。

表面能：通过形貌数据推测表面能分布。

结晶性：分析纳米颗粒表面的结晶状态。

涂层厚度：测量纳米颗粒表面涂层的厚度。

孔隙率：评估纳米颗粒表面或内部的孔隙分布。

分散性：分析纳米颗粒在溶液或基质中的分散状态。

表面改性效果：检测表面改性后的形貌变化。

纳米结构排列：观察纳米颗粒的排列方式或有序性。

动态形变：研究纳米颗粒在受力下的形变行为。

界面特性：分析纳米颗粒与基底的界面相互作用。

化学组成分布：结合形貌推测化学组成的局部差异。

热稳定性：通过形貌变化评估纳米颗粒的热稳定性。

光学特性关联：形貌与光学性能（如散射）的关联分析。

生物相容性：通过形貌评估纳米颗粒的生物相容性。

环境稳定性：研究纳米颗粒在不同环境下的形貌变化。

电学性能关联：形貌与电导率或介电性能的关联研究。

磁学性能关联：形貌与磁学特性的相关性分析。

检测范围

金属纳米颗粒,氧化物纳米颗粒,碳基纳米材料,聚合物纳米颗粒,半导体纳米颗粒,陶瓷纳米颗粒,生物纳米颗粒,磁性纳米颗粒,荧光纳米颗粒,量子点,纳米线,纳米管,纳米片,纳米球,纳米棒,核壳结构纳米颗粒,多孔纳米颗粒,复合纳米颗粒,纳米凝胶,纳米胶囊,纳米纤维,纳米涂层,纳米催化剂,纳米药物载体,纳米传感器,纳米电极材料,纳米复合材料,纳米环境污染物,纳米食品添加剂,纳米化妆品成分

检测方法

接触模式AFM：通过探针与样品直接接触获取高分辨率形貌。

轻敲模式AFM：减少探针损伤，适合柔软或易碎纳米颗粒。

非接触模式AFM：避免样品污染，用于敏感材料。

相位成像AFM：同时获取形貌和表面力学性质差异。

力调制AFM：测量纳米颗粒的局部弹性模量。

磁力AFM：研究磁性纳米颗粒的磁畴分布。

静电力AFM：分析纳米颗粒的表面电荷或电势。

热导AFM：测量纳米颗粒的热导率分布。

频闪AFM：用于动态过程或快速形貌变化研究。

高速AFM：实时观察纳米颗粒的动态行为。

液体环境AFM：在液相中表征纳米颗粒的分散状态。

低温AFM：研究纳米颗粒在低温下的形貌特性。

多频AFM：同时激发多个频率以增强信号对比度。

峰值力轻敲模式：精确控制探针作用力，减少损伤。

化学力显微镜：通过功能化探针检测表面化学性质。

红外AFM：结合红外光谱与形貌分析。

拉曼AFM：集成拉曼光谱进行化学与形貌表征。

电化学AFM：研究纳米颗粒在电化学环境中的形貌变化。

三维重构AFM：生成纳米颗粒的三维立体模型。

统计分布分析：对大量纳米颗粒的形貌参数进行统计分析。

检测仪器

原子力显微镜（AFM）,扫描电子显微镜（SEM）,透射电子显微镜（TEM）,动态光散射仪（DLS）,纳米颗粒追踪分析仪（NTA）,X射线衍射仪（XRD）,比表面积分析仪（BET）,zeta电位分析仪,粒度分析仪,光学显微镜,拉曼光谱仪,红外光谱仪,紫外可见分光光度计,热重分析仪（TGA）,差示扫描量热仪（DSC）

荣誉资质

北检院部分仪器展示