信息概要

LED封装胶冷热循环后透光检测是针对LED封装材料在温度剧烈变化环境下的光学稳定性评估服务。该检测模拟极端温度冲击(-40℃至150℃)对封装胶体的影响，通过量化透光率衰减、雾度变化等参数，确保材料在长期使用中维持光学性能。此项检测对汽车照明、户外显示屏等高可靠性应用领域至关重要，能提前识别胶体黄变、开裂、脱层等失效风险，避免因材料劣化导致LED光效下降或色偏。

检测项目

透光率衰减率，测量冷热循环前后可见光波段透射率下降百分比。

雾度变化值，量化胶体表面及内部微观缺陷导致的光散射程度变化。

黄变指数ΔYI，通过色差计检测材料老化后的黄色度偏移。

折射率稳定性，评估温度冲击后光学介质对光线的偏折能力一致性。

光谱透射曲线，记录400-700nm波长范围内的透光特性变化。

表面裂纹密度，显微镜下统计单位面积热应力裂纹数量。

界面剥离面积，观测胶体与LED芯片/支架结合处的分层比例。

热膨胀系数CTE，监测温度循环中体积变化的匹配性。

应力双折射，偏振光检测胶体内残余应力分布状态。

透射均匀性，扫描不同区域透光率的最大偏差值。

耐湿气渗透性，评估潮气侵入导致的透光率衰减速率。

紫外老化响应，模拟紫外线照射后的透光性能保持率。

线性透光损失，计算单位厚度材料的平均光通量衰减。

漫反射率，测定胶体表面结构变化引起的散射光增强量。

抗析晶能力，检测高温相变产生的晶体导致的光散射点数量。

胶体流变特性，分析热应力下材料蠕变对光学路径的影响。

介电常数变化，关联材料极化状态与透光特性的关系。

热重损失率，评估高温挥发性物质析出对透光性的影响。

荧光衰减率，针对荧光胶检测温度循环后的波长转换效率。

抗碳化等级，判定有机胶体高温氧化发黑的严重程度。

透射角分布，测量出射光线半强宽度的变化幅度。

线性热膨胀，记录-40℃~150℃区间尺寸变化的回滞曲线。

折痕恢复率，模拟安装应力后的光学恢复能力。

抗紫外黄变，专项评估UV波段照射后的YI值增量。

胶层厚度均一性，检测分层取样点厚度极差与透光关联性。

气泡增长率，统计冷热冲击后微气泡的尺寸及数量变化。

化学键断裂率，通过红外光谱分析硅氧键断裂比例。

憎水性角，评估表面疏水性能对透光稳定性的贡献。

折射率梯度，检测胶体固化不均匀导致的光路畸变量。

全光线透射比，积分球法测量总透射光通量衰减率。

检测范围

有机硅封装胶,环氧树脂封装胶,聚氨酯封装胶,丙烯酸酯封装胶,硅橡胶封装胶,改性环氧胶,荧光粉分散胶,高折射硅胶,低应力封装胶,耐高温硅胶,UV固化胶,导热光学胶,防潮密封胶,透镜填充胶,COB集成封装胶,SMD贴片胶,大功率LED胶,紫外LED专用胶,深红光封装胶,车规级封装胶,显示屏封装胶,植物照明胶,红外LED胶,医用灭菌胶,水下照明胶,航空照明胶,柔性灯带胶,透明导电胶,量子点分散胶,光学透镜粘接胶

检测方法

热循环冲击法，在-40℃/150℃间进行500次快速温度切换。

积分球光谱法，使用直径1m积分球测量全光线透射率。

雾度计检测法，依据ASTM D1003标准测量散射光比率。

显微红外成像，定位胶体内部分子键断裂的微区位置。

激光干涉术，通过波前畸变分析胶体内部应力分布。

荧光光谱法，检测荧光胶在450nm激发下的发射谱偏移。

椭偏仪测量法，精确测定循环后折射率及消光系数。

热机械分析法，绘制温度-形变曲线评估CTE变化。

共聚焦显微术，三维重建表面裂纹的深度及形态。

X射线微CT，无损观测内部气泡分布及界面分层。

动态热分析，测定玻璃化转变温度偏移幅度。

氙灯老化法，模拟全光谱太阳辐射加速老化。

激光散射法，定量分析胶体内部微粒析出浓度。

超声扫描成像，检测界面剥离的平面投影面积。

偏振光分析法，依据双折射条纹判断残余应力等级。

热重红外联用，分析挥发性物质的成分及含量。

接触角测量，评估表面能变化对透光性的影响。

纳米压痕测试，测量局部区域弹性模量衰减率。

光谱椭偏法，建立光学常数与老化程度的数学模型。

光纤背向散射，定位胶体内部缺陷的空间分布。

检测仪器

高低温冲击试验箱,紫外可见分光光度计,积分球光谱测试系统,雾度测定仪,显微红外光谱仪,激光干涉仪,热机械分析仪,扫描电子显微镜,X射线显微CT,氙灯老化试验箱,椭偏仪,接触角测量仪,荧光光谱仪,动态热分析仪,超声波扫描显微镜,偏振光应力仪,热重分析仪,纳米压痕仪,共聚焦显微镜,光纤光谱仪

荣誉资质

北检院部分仪器展示