XRPD检测
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信息概要
X射线粉末衍射检测是一种基于X射线与材料相互作用原理的分析技术,主要用于确定样品的晶体结构、物相组成和微观特性。该检测项目在材料科学、制药工业、环境监测等领域具有广泛应用,能够帮助识别材料的成分、评估其稳定性和性能,从而为产品质量控制、研发创新提供可靠依据。检测的重要性在于,它能够非破坏性地分析样品,确保检测结果的准确性和可重复性,避免因材料缺陷导致的潜在风险。概括来说,X射线粉末衍射检测是一种高效、精确的手段,有助于提升产品的安全性和可靠性。
检测项目
物相鉴定,晶体结构分析,晶粒大小测定,晶格常数测定,应力分析,择优取向分析,定量相分析,非晶含量测定,晶体缺陷分析,相变研究,织构分析,残余应力测定,晶体学参数计算,衍射峰位分析,峰形分析,背景扣除,数据拟合,指标化,空间群确定,原子位置精修,温度依赖性研究,压力依赖性研究,原位监测,动态分析,多相混合物分析,纯度检验,同质多晶型鉴定,晶型稳定性评估,药物多晶型筛选,材料老化研究
检测范围
金属材料,无机非金属材料,有机材料,高分子材料,陶瓷材料,半导体材料,药物制剂,催化剂,矿物,土壤,环境样品,生物材料,纳米材料,复合材料,合金,玻璃,水泥,涂料,颜料,电池材料,磁性材料,超导材料,纤维,薄膜,块状材料,粉末样品,单晶样品,多晶样品,非晶样品,功能材料
检测方法
标准粉末衍射法:使用常规X射线源进行物相分析,适用于大多数粉末样品。
高分辨率衍射法:采用高精度仪器进行精细结构分析,提高衍射数据的分辨率。
原位衍射法:在特定环境条件下实时监测样品变化,用于动态过程研究。
变温衍射法:通过控制温度研究晶体结构的热效应,分析温度依赖性。
高压衍射法:在高压条件下分析材料结构变化,适用于高压相变研究。
微区衍射法:对小区域样品进行衍射分析,用于局部结构表征。
掠入射衍射法:针对薄膜或表面样品,通过掠入射角度获取表面结构信息。
二维衍射法:使用二维探测器获取全二维衍射数据,提高分析效率。
时间分辨衍射法:跟踪快速动态过程,用于时间依赖性分析。
同步辐射衍射法:利用同步辐射光源提高分辨率和灵敏度,适用于高要求分析。
中子衍射法:使用中子源进行互补分析,特别适用于轻元素材料。
实验室X射线衍射法:常规实验室应用,提供快速可靠的检测结果。
快速衍射法:通过高速数据采集缩短检测时间,适用于大批量样品。
定量分析:通过标准方法计算各相含量,实现精确的定量评估。
结构精修:优化晶体结构模型,提高结构参数的准确性。
检测仪器
X射线衍射仪,粉末衍射仪,多功能衍射仪,台式衍射仪,高分辨率衍射仪,原位衍射仪,微区衍射仪,二维探测器衍射仪,同步辐射衍射仪,中子衍射仪,实验室衍射仪,工业用衍射仪,便携式衍射仪,在线监测衍射仪,定制衍射系统
荣誉资质
北检院部分仪器展示